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100%: H. Fukuda; Fukuda: Rapid Thermal Processing for Future Semiconductor Devices (ISBN: 9780444513397) 2003, Erstausgabe, in Englisch, Taschenbuch.Nur diese Ausgabe anzeigen…
100%: H. Fukuda: Rapid Thermal Processing for Future Semiconductor Devices (ISBN: 9780080540269) 2003, in Englisch, auch als eBook.Nur diese Ausgabe anzeigen…
Rapid Thermal Processing for Future Semiconductor Devices
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| Preise | 2015 | 2016 | 2017 |
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Rapid Thermal Processing for Future Semiconductor Devices (2003)
EN NW EBISBN: 9780080540269 bzw. 0080540260, in Englisch, Elsevier Science, neu, E-Book.
Lieferung aus: Niederlande, Direct beschikbaar.
bol.com.
This volume is a collection of papers which were presented at the 2001 International Conference on Rapid Thermal Processing (RTP 2001) held at Ise Shima, Mie, on November 14-16, 2001. This symposium is second conference followed the previous successful first International RTP conference held at Hokkaido in 1997. The RTP 2001 covered the latest developments in RTP and other short-time processing continuously aiming to point out the future direction in the Silicon ULSI devices and II-VI, III-V com... This volume is a collection of papers which were presented at the 2001 International Conference on Rapid Thermal Processing (RTP 2001) held at Ise Shima, Mie, on November 14-16, 2001. This symposium is second conference followed the previous successful first International RTP conference held at Hokkaido in 1997. The RTP 2001 covered the latest developments in RTP and other short-time processing continuously aiming to point out the future direction in the Silicon ULSI devices and II-VI, III-V compound semiconductor devices. This book covers the following areas such as: advanced MOS gate stack, integration technologies, advancd channel engineering including shallow junction, SiGe, hetero-structure, novel metallization, inter-connect, silicidation, low-k materials, thin dielectrics including gate dielectrics and high-k materials, thin film deposition including SiGe, SOI and SiC, process and device modelling, Laser-assisted crystallization and TFT device fabrication technologies, temperature monitoring and slip-free technologies. Productinformatie:Taal: Engels;Formaat: ePub met kopieerbeveiliging (DRM) van Adobe;Bestandsgrootte: 7.54 MB;Kopieerrechten: Het kopiëren van (delen van) de pagina's is niet toegestaan ;Printrechten: Het printen van de pagina's is niet toegestaan;Voorleesfunctie: De voorleesfunctie is uitgeschakeld;Geschikt voor: Alle e-readers te koop bij bol.com (of compatible met Adobe DRM). Telefoons/tablets met Google Android (1.6 of hoger) voorzien van bol.com boekenbol app. PC en Mac met Adobe reader software;ISBN10: 0080540260;ISBN13: 9780080540269; Engels | Ebook | 2003.
bol.com.
This volume is a collection of papers which were presented at the 2001 International Conference on Rapid Thermal Processing (RTP 2001) held at Ise Shima, Mie, on November 14-16, 2001. This symposium is second conference followed the previous successful first International RTP conference held at Hokkaido in 1997. The RTP 2001 covered the latest developments in RTP and other short-time processing continuously aiming to point out the future direction in the Silicon ULSI devices and II-VI, III-V com... This volume is a collection of papers which were presented at the 2001 International Conference on Rapid Thermal Processing (RTP 2001) held at Ise Shima, Mie, on November 14-16, 2001. This symposium is second conference followed the previous successful first International RTP conference held at Hokkaido in 1997. The RTP 2001 covered the latest developments in RTP and other short-time processing continuously aiming to point out the future direction in the Silicon ULSI devices and II-VI, III-V compound semiconductor devices. This book covers the following areas such as: advanced MOS gate stack, integration technologies, advancd channel engineering including shallow junction, SiGe, hetero-structure, novel metallization, inter-connect, silicidation, low-k materials, thin dielectrics including gate dielectrics and high-k materials, thin film deposition including SiGe, SOI and SiC, process and device modelling, Laser-assisted crystallization and TFT device fabrication technologies, temperature monitoring and slip-free technologies. Productinformatie:Taal: Engels;Formaat: ePub met kopieerbeveiliging (DRM) van Adobe;Bestandsgrootte: 7.54 MB;Kopieerrechten: Het kopiëren van (delen van) de pagina's is niet toegestaan ;Printrechten: Het printen van de pagina's is niet toegestaan;Voorleesfunctie: De voorleesfunctie is uitgeschakeld;Geschikt voor: Alle e-readers te koop bij bol.com (of compatible met Adobe DRM). Telefoons/tablets met Google Android (1.6 of hoger) voorzien van bol.com boekenbol app. PC en Mac met Adobe reader software;ISBN10: 0080540260;ISBN13: 9780080540269; Engels | Ebook | 2003.
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Rapid Thermal Processing for Future Semiconductor Devices (2003)
EN PB US FEISBN: 9780444513397 bzw. 0444513396, in Englisch, 160 Seiten, Elsevier Science, Taschenbuch, gebraucht, Erstausgabe.
Lieferung aus: Vereinigte Staaten von Amerika, Usually ships in 1-2 business days.
Von Händler/Antiquariat, tabletopart.
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Rapid Thermal Processing for Future Semiconductor Devices (2003)
EN PB NW FEISBN: 9780444513397 bzw. 0444513396, in Englisch, 160 Seiten, Elsevier Science, Taschenbuch, neu, Erstausgabe.
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Rapid Thermal Processing for Future Semiconductor Devices
EN NWISBN: 9780444513397 bzw. 0444513396, in Englisch, North-Holland, neu.
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Rapid Thermal Processing for Future Semiconductor Devices
EN NWISBN: 9780444513397 bzw. 0444513396, in Englisch, North-Holland, neu.
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Rapid Thermal Processing for Future Semiconductor Devices
DE NW EBISBN: 9780080540269 bzw. 0080540260, in Deutsch, Pergamon; Pergamon Press, Vereinigte Staaten von Amerika, neu, E-Book.
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