Beam injection assessment of microstructures in semiconductors (BIAMS ; proceedings. (Solid state [henomena; v.78-79)
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International Workshop on [title] (6th: 2000: Fukuoka, Japan) Ed. by Hajime Tomokage and Takashi Sekiguchi.
Beam injection assessment of microstructures in semiconductors (BIAMS ; proceedings. (Solid state [henomena; v.78-79) (2000)
DE PB
ISBN: 9783908450610 bzw. 3908450616, in Deutsch, Scitec Publications, Ltd. Taschenbuch.
Von Händler/Antiquariat, Gulls Nest Books, Inc. [2192], Portland, OR, U.S.A.
Brand NEW! Paperback.
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Beam injection assessment of microstructures in semiconductors (BIAMS 2000); proceedings (2000)
DE PB NW
ISBN: 9783908450610 bzw. 3908450616, in Deutsch, Scitec Publications, Ltd. 1, Taschenbuch, neu.
Von Händler/Antiquariat, Powell's Books [9859], Portland, OR, U.S.A.
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