Auswertung von Messungen mit Optimierungsverfahren - demonstriert anInterferometrie und Ellipsometrie
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Auswertung von Messungen mit Optimierungsverfahren - demonstriert an Interferometrie und Ellipsometrie (1996)
DE PB US
ISBN: 9783798316775 bzw. 3798316775, in Deutsch, 170 Seiten, Technische Uni Berlin, Taschenbuch, gebraucht.
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Von Privat, MaryKay, [3229988].
Titel ist vergriffen und erscheint voraussichtlich nicht wieder Schriftenreihe "Berichte der Technischen Optik Bd. 33", 1996, Taschenbuch, leichte Gebrauchsspuren, 250g, 170, Internationaler Versand, sofortueberweisung.de, PayPal, Banküberweisung.
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Auswertung von Messungen mit Optimierungsverfahren demonstriert an Interferometrie und Ellipsometrie (1996)
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Auswertung von Messungen mit Optimierungsverfahren - demonstriert an Interferometrie und Ellipsometrie (1996)
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Auswertung von Messungen mit Optimierungsverfahren demonstriert an Interferometrie und Ellipsometrie (1996)
DE PB US FE
ISBN: 9783798316775 bzw. 3798316775, in Deutsch, 170 Seiten, Optisches Institut - AG Technische Optik - Berlin, Taschenbuch, gebraucht, Erstausgabe.
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Von Händler/Antiquariat, Mary000.
Taschenbuch, Edition: 1. Étiquette: Optisches Institut - AG Technische Optik - Berlin, Optisches Institut - AG Technische Optik - Berlin, Groupe de produits: Book, Publié: 1996, Studio: Optisches Institut - AG Technische Optik - Berlin.
Von Händler/Antiquariat, Mary000.
Taschenbuch, Edition: 1. Étiquette: Optisches Institut - AG Technische Optik - Berlin, Optisches Institut - AG Technische Optik - Berlin, Groupe de produits: Book, Publié: 1996, Studio: Optisches Institut - AG Technische Optik - Berlin.
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Symbolbild
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DE PB US
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Von Händler/Antiquariat, MEDIMOPS.
Die Beschreibung dieses Angebotes ist von geringer Qualität oder in einer Fremdsprache. Trotzdem anzeigen
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