Theoretische Bewertung der Reflexion in AL/SiO2-Dünnschichten
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9786203622195 - Ortega Cabrera, Jesús Javier: Theoretische Bewertung der Reflexion in AL/SiO2-Dünnschichten
Ortega Cabrera, Jesús Javier

Theoretische Bewertung der Reflexion in AL/SiO2-Dünnschichten

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ISBN: 9786203622195 bzw. 6203622192, vermutlich in Deutsch, Verlag Unser Wissen, neu.

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Die Verbesserung der optischen Eigenschaften eines Materials, wie z. B. des Reflexionsgrads, beinhaltet die komplexe Suche nach den optimalen experimentellen Parametern bei deren Gewinnung. Die Verwendung von Berechnungssoftware für die Simulation dieser Dünnschichtwachstumsprozesse stellt einen wesentlichen Vorteil dar, da keine Abhängigkeit von einem realen System besteht und ein breiterer Bereich der beteiligten physikalischen Grössen untersucht werden kann. Darüber hinaus gibt es einen Bedarf in der Automobilindustrie, Varroc Lighting Systems© wurde mit der Aufgabe betraut, den Reflexionsgrad von aluminisierten Scheinwerfern zu verbessern. Daher haben wir die Entwicklung mit der Software NASCAM® durchgeführt, die die kinetische Monte-Carlo-Methode verwendet, um ein Modell des zu untersuchenden physikalischen Systems auf einer nanometrischen Skala zu entwickeln, was uns erlaubt, den Einfluss verschiedener Grössen zu analysieren, die den Reflexionsgrad des Materials beeinflussen können.
Kategorie: Buch Buch > Mathematik, Naturwissenschaft & Technik > Technik > Maschinenbau & Fertigungstechnik
Schlüsselwörter: Theoretische Bewertung der Reflexion in AL/SiO2-Dünnschichten;Ortega Cabrera, Jesús Javier;9786203622195
Daten vom 03.05.2021 03:40h
ISBN (andere Schreibweisen): 620-3-62219-2, 978-620-3-62219-5
Zuerst gefunden: 03.05.2021 03:40:02
Zuletzt gefunden: 03.05.2021 03:40:02
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