Phase Change Memory - Device Physics, Reliability, and Applications
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Phase Change Memory: Device Physics, Reliability and Applications (2017)
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ISBN: 9783319690520 bzw. 3319690523, in Englisch, 348 Seiten, Springer, gebundenes Buch, neu, Erstausgabe.
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ISBN: 9783319690520 bzw. 3319690523, in Deutsch, Springer-Verlag Gmbh, gebundenes Buch, neu.
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ISBN: 9783319690520 bzw. 3319690523, in Deutsch, neu.
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