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100%: Sascha Sadewasser; Thilo Glatzel: Kelvin Probe Force Microscopy (ISBN: 9783319756875) 2018, in Englisch, auch als eBook.Nur diese Ausgabe anzeigen…
100%: Sascha Sadewasser: Kelvin Probe Force Microscopy: From Single Charge Detection to Device Characterization (ISBN: 9783030092986) 2019, in Deutsch, Taschenbuch.Nur diese Ausgabe anzeigen…
82%: Sascha Sadewasser: Kelvin Probe Force Microscopy - From Single Charge Detection to Device Characterization (ISBN: 9783319756868) 2018, in Deutsch, Broschiert.Nur diese Ausgabe anzeigen…
Kelvin Probe Force Microscopy - 12 Angebote vergleichen
Bester Preis: Fr. 97.74 (€ 99.98)¹ (vom 01.02.2018)
Kelvin Probe Force Microscopy
~EN NW EB DLISBN: 9783319756875 bzw. 3319756877, vermutlich in Englisch, Springer Shop, neu, E-Book, elektronischer Download.
This book provides a comprehensive introduction to the methods and variety of Kelvin probe force microscopy, including technical details. It also offers an overview of the recent developments and numerous applications, ranging from semiconductor materials, nanostructures and devices to sub-molecular and atomic scale electrostatics. In the last 25 years, Kelvin probe force microscopy has developed from a specialized technique applied by a few scanning probe microscopy experts into a tool used by numerous research and development groups around the globe. This sequel to the editors’ previous volume “Kelvin Probe Force Microscopy: Measuring and Compensating Electrostatic Forces,” presents new and complementary topics. It is intended for a broad readership, from undergraduate students to lab technicians and scanning probe microscopy experts who are new to the field. eBook.
Kelvin Probe Force Microscopy als von (2018)
DE NWISBN: 9783319756868 bzw. 3319756869, in Deutsch, Springer-Verlag GmbH, neu.
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Kelvin Probe Force Microscopy - From Single Charge Detection to Device Characterization
DE HC NWISBN: 9783319756868 bzw. 3319756869, in Deutsch, Springer-Verlag Gmbh, gebundenes Buch, neu.
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Kelvin Probe Force Microscopy (2018)
EN NW EB DLISBN: 9783319756875 bzw. 3319756877, in Englisch, Springer, Springer, Springer, neu, E-Book, elektronischer Download.
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Kelvin Probe Force Microscopy: From Single Charge Detection to Device Characterization (Paperback) (2019)
DE PB NWISBN: 9783030092986 bzw. 3030092984, in Deutsch, Springer, United States, Taschenbuch, neu.
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Kelvin Probe Force Microscopy - From Single Charge Detection to Device Characterization
~EN NW EB DLISBN: 9783319756875 bzw. 3319756877, vermutlich in Englisch, neu, E-Book, elektronischer Download.
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Kelvin Probe Force Microscopy (2019)
DE NW RPISBN: 9783030092986 bzw. 3030092984, in Deutsch, Springer, neu, Nachdruck.
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Kelvin Probe Force Microscopy: From Single Charge Detection to Device Characterization (2019)
DE NW RPISBN: 9783030092986 bzw. 3030092984, in Deutsch, Springer, neu, Nachdruck.
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Kelvin Probe Force Microscopy: From Single Charge Detection to Device Characterization
DE PB NWISBN: 9783030092986 bzw. 3030092984, in Deutsch, Springer Nature Customer Service Center Gmbh, Taschenbuch, neu.
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