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100%: Ireneusz Mrozek: Multi-run Memory Tests for Pattern Sensitive Faults (ISBN: 9783319912042) 2018, in Englisch, auch als eBook.Nur diese Ausgabe anzeigen…
100%: Ireneusz Mrozek: Multi-run Memory Tests for Pattern Sensitive Faults (ISBN: 9783030081980) 2019, in Englisch, Taschenbuch.Nur diese Ausgabe anzeigen…
100%: Ireneusz Mrozek: Multi-run Memory Tests for Pattern Sensitive Faults (ISBN: 9783319912035) Springer International Publishing, in Deutsch, Broschiert.Nur diese Ausgabe anzeigen…
Multi-run Memory Tests for Pattern Sensitive Faults
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Multi-Run Memory Tests for Pattern Sensitive Faults (2019)
DE NW RPISBN: 9783030081980 bzw. 3030081982, in Deutsch, Springer, neu, Nachdruck.
New Book. Shipped from US within 10 to 14 business days. THIS BOOK IS PRINTED ON DEMAND. Established seller since 2000.
Multi-Run Memory Tests for Pattern Sensitive Faults (2019)
DE NW RPISBN: 9783030081980 bzw. 3030081982, in Deutsch, Springer, neu, Nachdruck.
New Book. Delivered from our UK warehouse in 4 to 14 business days. THIS BOOK IS PRINTED ON DEMAND. Established seller since 2000.
Multi-Run Memory Tests for Pattern Sensitive Faults (Paperback) (2019)
DE PB NWISBN: 9783030081980 bzw. 3030081982, in Deutsch, Springer, United Kingdom, Taschenbuch, neu.
Language: English. Brand new Book. This book describes efficient techniques for production testing as well as for periodic maintenance testing (specifically in terms of multi-cell faults) in modern semiconductor memory. The author discusses background selection and address reordering algorithms in multi-run transparent march testing processes. Formal methods for multi-run test generation and many solutions to increase their efficiency are described in detail. All methods presented ideas are verified by both analytical investigations and numerical simulations.Provides the first book related exclusively to the problem of multi-cell fault detection by multi-run tests in memory testing process;Presents practical algorithms for design and implementation of efficient multi-run tests;Demonstrates methods verified by analytical and experimental investigations.
Multi-run Memory Tests for Pattern Sensitive Faults
~EN NW EB DLISBN: 9783319912042 bzw. 3319912046, vermutlich in Englisch, Springer International Publishing, neu, E-Book, elektronischer Download.
Multi-run Memory Tests for Pattern Sensitive Faults: This book describes efficient techniques for production testing as well as for periodic maintenance testing (specifically in terms of multi-cell faults) in modern semiconductor memory. The author discusses background selection and address reordering algorithms in multi-run transparent march testing processes. Formal methods for multi-run test generation and many solutions to increase their efficiency are described in detail. All methods presented ideas are verified by both analytical investigations and numerical simulations. Englisch, Ebook.
Multi-run Memory Tests for Pattern Sensitive Faults
~EN NW EB DLISBN: 9783319912042 bzw. 3319912046, vermutlich in Englisch, Springer Shop, neu, E-Book, elektronischer Download.
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Multi-run Memory Tests for Pattern Sensitive Faults (2018)
~EN NW EB DLISBN: 9783319912042 bzw. 3319912046, vermutlich in Englisch, Springer, Springer, Springer, neu, E-Book, elektronischer Download.
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Multi-run Memory Tests for Pattern Sensitive Faults
DE HC NWISBN: 9783319912035 bzw. 3319912038, in Deutsch, Springer-Verlag Gmbh, gebundenes Buch, neu.
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Multi-Run Memory Tests for Pattern Sensitive Faults
DE PB NWISBN: 9783030081980 bzw. 3030081982, in Deutsch, Springer Nature Customer Service Center Gmbh, Taschenbuch, neu.
books~~9783030081980, Multi-Run Memory Tests for Pattern Sensitive Faults, Paperback.
Multi-run Memory Tests for Pattern Sensitive Faults
DE HC NWISBN: 9783319912035 bzw. 3319912038, in Deutsch, Springer International Publishing, gebundenes Buch, neu.
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Multi-run Memory Tests for Pattern Sensitive Faults (2019)
EN PB NWISBN: 9783030081980 bzw. 3030081982, in Englisch, 148 Seiten, Springer, Taschenbuch, neu.
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