Lifetime aware device design using failure mechanism analysis
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Lifetime aware device design using failure mechanism analysis (2017)
~EN PB NWISBN: 9783330086937 bzw. 3330086939, vermutlich in Englisch, LAP LAMBERT Academic Publishing, Taschenbuch, neu.
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Von Händler/Antiquariat, AHA-BUCH GmbH [51283250], Einbeck, Germany.
nach der Bestellung gedruckt Neuware -As the device scales down, several serious design challenges emerges namely design complexity, power, crosstalk, delay and reliability. The design challenges are interrelated and a tradeoff has to be done for yielding a reliable structure for portable microelectronic devices in the DSM era. By considering this, the book focuses on developing a reliability prediction system using failure mechanism analysis.The work suggests the ways to handle failure mechanisms to maintain the reliability of power semiconductor device. Hence, the need for a lifetime aware device design has been emphasized in this book. 180 pp. Englisch, Books.
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Lifetime aware device design using failure mechanism analysis (2017)
~EN PB NW RPISBN: 9783330086937 bzw. 3330086939, vermutlich in Englisch, LAP LAMBERT Academic Publishing, Taschenbuch, neu, Nachdruck.
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Von Händler/Antiquariat, moluna [73551232], Greven, Germany.
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Lifetime aware device design using failure mechanism analysis
~EN PB NWISBN: 3330086939 bzw. 9783330086937, vermutlich in Englisch, LAP LAMBERT Academic Publishing, Taschenbuch, neu.
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Lifetime aware device design using failure mechanism analysis (2017)
~EN PB NW FE RPISBN: 9783330086937 bzw. 3330086939, vermutlich in Englisch, 180 Seiten, LAP LAMBERT Academic Publishing, Taschenbuch, neu, Erstausgabe, Nachdruck.
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9783330086937 Lifetime aware device design using failure mechanism analysis - Se
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