Integrierte Halbleiterschaltungen: Konstruktionsmerkmale, Fehlererscheinungen, Ausfallmechanismen
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Integrierte Halbleiterschaltungen. Konstruktionsmerkmale, Fehlererscheinungen, Ausfallmechanismen. (1993)
~DE USISBN: 9783527284108 bzw. 3527284109, vermutlich in Deutsch, VCH Verlag, gebraucht.
Von Händler/Antiquariat, Petra Gros [1048006], Koblenz, Germany.
297 S. Das hier angebotene Buch stammt aus einer teilaufgelösten wissenschaftlichen Bibliothek und trägt die entsprechenden Kennzeichnungen (Rückenschild, Instituts-Stempel.); Schnitt und Einband sind etwas staubschmutzig; der Buchzustand ist ansonsten ordentlich und dem Alter entsprechend gut. Einbandkanten sind leicht bestossen; Sprache: Deutsch Gewicht in Gramm: 740, Books.
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Integrierte Halbleiterschaltungen. Konstruktionsmerkmale, Fehlererscheinungen, Ausfallmechanismen. (1993)
DE USISBN: 9783527284108 bzw. 3527284109, in Deutsch, VCH Verlag, gebraucht.
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Von Händler/Antiquariat, Petra Gros, [3076014].
297 S. gebundene Ausgabe Das hier angebotene Buch stammt aus einer teilaufgelösten wissenschaftlichen Bibliothek und trägt die entsprechenden Kennzeichnungen (Rückenschild, Instituts-Stempel...) Schnitt und Einband sind etwas staubschmutzig der Buchzustand ist ansonsten ordentlich und dem Alter entsprechend gut. Einbandkanten sind leicht bestossen, 1993. gebraucht gut, 740g, Internationaler Versand, PayPal, offene Rechnung, Banküberweisung, offene Rechnung (Vorkasse vorbehalten).
Von Händler/Antiquariat, Petra Gros, [3076014].
297 S. gebundene Ausgabe Das hier angebotene Buch stammt aus einer teilaufgelösten wissenschaftlichen Bibliothek und trägt die entsprechenden Kennzeichnungen (Rückenschild, Instituts-Stempel...) Schnitt und Einband sind etwas staubschmutzig der Buchzustand ist ansonsten ordentlich und dem Alter entsprechend gut. Einbandkanten sind leicht bestossen, 1993. gebraucht gut, 740g, Internationaler Versand, PayPal, offene Rechnung, Banküberweisung, offene Rechnung (Vorkasse vorbehalten).
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Symbolbild
Integrierte Halbleiterschaltungen Konstruktionsmerkmale Fehlererscheinungen (1993)
~EN HCISBN: 9783527284108 bzw. 3527284109, vermutlich in Englisch, Wiley VCH, gebundenes Buch.
Von Händler/Antiquariat, medimops [55410863], Berlin, Germany.
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Integrierte Halbleiterschaltungen: Konstruktionsmerkmale, Fehlererscheinungen, Ausfallmechanismen (1993)
DE HC USISBN: 9783527284108 bzw. 3527284109, in Deutsch, 297 Seiten, Wiley-VCH, gebundenes Buch, gebraucht.
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Von Händler/Antiquariat, MEDIMOPS.
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Integrierte Halbleiterschaltungen: Konstruktionsmerkmale, Fehlererscheinungen, Ausfallmechanismen (1993)
DE HC USISBN: 9783527284108 bzw. 3527284109, in Deutsch, 297 Seiten, Wiley-VCH, gebundenes Buch, gebraucht.
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Von Händler/Antiquariat, wissenschaft.
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Integrierte Halbleiterschaltungen: Konstruktionsmerkmale, Fehlererscheinungen, Ausfallmechanismen (1993)
DE HC USISBN: 9783527284108 bzw. 3527284109, in Deutsch, 297 Seiten, Wiley-VCH, gebundenes Buch, gebraucht.
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Von Händler/Antiquariat, pauro2014.
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