Einführung in die Röntgen-Feinstruktur-Analyse. Lehrbuch für Physiker, Chemiker, Physikochemiker, Metallurgen, Kristallographen und Mineralogen im 2. Studienabschnitt. 4. Aufl.
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Education, 1. Entstehung und Eigenschaften von Rntgenstrahlen.- 1.1. Definition.- 1.2. Das kontinuierliche Rntgenspektrum.- 1.3. Das charakteristische Rntgenspektrum.- 1.4. Erzeugung von Rntgenstrahlen.- 1.5. Strahlenschutz.- 1.6. Nachweis von Rntgenstrahlen.- 1.6.1. Rntgenfilme.- 1.6.2. Zhlrohre.- 1.6.3. Festkrperdetektoren.- 1.7. Absorption von Rntgenstrahlen.- 1.7.1. Absorptionskoeffizient.- 1.7.1.1. Berechnung des Massenschwchungskoeffizienten fr Ba(N3)2 fr verschiedene Rntgenwellenlngen.- 1.7.1.2. Berechnung der Eindringtiefe von Rntgenstrahlen.- 1.7.2. Absorptionskanten.- 1.7.3. Absorptionsanalyse.- 1.8. Anregung der Eigenstrahlung.- 1.8.1. Elektronenstrahl-Mikrosonde.- 1.8.2. Anregung der Eigenstrahlung von Elementen durch Rntgenstrahlen, Emissionsanalyse (Rntgenfluoreszenzanalyse, RFA)..- 1.9. Brechung von Rntgenstrahlen.- 1.10. Streuung von Rntgenstrahlen.- 1.11. Beugung von Rntgenstrahlen.- 1.11.1. Die Lauegleichungen.- 1.11.2. Die Braggsche Reflexionsbedingung.- 1.11.3. Durchfhrung von Beugungsuntersuchungen.- 2. Pulveraufnahmeverfahren.- 2.1. Debye-Scherrer-Verfahren.- 2.1.1. Prparation.- 2.1.1.1. Stbchenfrmige Prparate.- 2.1.1.2. Einfllen in Kapillaren.- 2.1.1.3. Prparation an Glasfden.- 2.1.2. Kamera und Blendensystem.- 2.1.3. Vorbereitung und Einlegen des Filmes.- 2.1.4. Anbringen der Kamera an der Rntgenrhre und Wahl der geeigneten Rntgenstrahlen.- 2.1.5. Monochromatisierung der Rntgenstrahlung.- 2.1.6. Anfertigung einer Debye-Scherrer-Aufnahme des Cu-Drahtes...- 2.2. Aufnahmeverfahren nach Straumanis.- 2.2.1. Anfertigen einer Pulveraufnahme nach Straumanis.- 2.3. Ausmessen von Debye-Scherrer-Filmen und Straumanisfilmen und Berechnung der Netzebenenabstnde.- 2.4. Seemann-Bohlin-Verfahren.- 2.5. Planfilm- und Kegelverfahren.- 2.6. Guinierverfahren.- 2.7. Zhlrohrdiffraktometerverfahren.- 2.7.1. Prparation.- 2.7.2. Durchfhrung von Diffraktometeraufnahmen.- 2.7.3. Pulverdiffraktometer mit Monochromator und automatischem Divergenzspalt.- 2.7.4. Mikroprozessorgesteuerte Pulverdiffraktionsanlagen.- 2.7.5. Transmissionsdiffraktometer.- 2.7.6. Transmissionsdiffraktometer mit ortsempfindlichem Zhler.- 2.8. Pulveraufnahmen bei hoher und tiefer Temperatur.- 3. Auswertung von Pulveraufnahmen (Geometrie der Beugung).- 3.1. Identifizierung unbekannter Substanzen mit Hilfe des PDF.- 3.1.1. Index to the powder diffraction file, Hanawalt-Index.- 3.1.2. Fink-Index.- 3.1.3. KWIC-Index (Key Word in Context).- 3.1.4. Computermethoden.- 3.1.5. Identifizierung von Pulvergemischen.- 3.2. Kristallographische Datenbanken.- 3.3. Indizierung von Pulveraufnahmen.- 3.3.1. Achsensysteme und Bravaisgitter.- 3.3.2. Punktkoordinaten, Richtungsindizes und Flchenindizes.- 3.3.3. Netzebenenabstand dhkl.- 3.3.4. Indizierung kubischer Kristalle.- 3.3.4.1. Indizierung bei bekannter Gitterkonstante.- 3.3.4.2. Indizierung bei unbekannter Gitterkonstante.- 3.3.5. Graphische Indizierung kubischer und tetragonaler Kristalle.- 3.3.5.1. Graphische Indizierung von Rutil.- 3.3.5.2. Re, eBook.

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Braunschweig Wiesbaden : Vieweg 1987, 3. Auflage, 193 Seiten, 92 Illustr. u. graph. Darst. 23 cm, kart., Mit 92 Bildern, 29 Tab. u.e. Anhang Schnitt in der ersten Hälfte unregelmässig, vermutlich ein Werksfehler, stellenweise Markeranstriche, vorne ein Adressstempel, Schnitt in der ersten Hälfte unregelmässig, vermutlich ein Werksfehler, stellenweise Markeranstriche, vorne ein Adressstempel, 1001g.

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Braunschweig Wiesbaden : Vieweg 1987, 3. Auflage, 193 Seiten, 92 Illustr. u. graph. Darst. 23 cm, kart., Mit 92 Bildern, 29 Tab. u.e. Anhang Schnitt in der ersten Hälfte unregelmässig, vermutlich ein Werksfehler, stellenweise Markeranstriche, vorne ein Adressstempel.

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Rontgenstrahlen sind elektromagnetische Wellen, deren Wellenliinge kiirzer ist als die des sichtbaren Lichtes und in der Groenordnung atomarer Absmnde in Kristallen liegt (ca. 100 pm). Sie bilden die Grundlage fUr eine Reihe verschiedener Untersuchungsver fahren, die man in vier groe Gruppen einteilen kann: 1. Rontgendurchleuchtungstechnik und Grobstrukturanalyse 2. Rontgenbeugungsverfahren bzw. Feinstrukturanalyse 3. Rontgen-Emissionsanalyse (Fluoreszenzanalyse) 4. Sonderverfahren Das vorliegende Buch beschaftigt sich vorwiegend mit der zweiten Gruppe von Unter suchungsverfahren, mit Beugungsphiinomenen. Rontgenstrahlen werden namlich an den periodisch angeordneten atomaren Bausteinen kristallinen Materials gebeugt, wobei charak teristische Beugungsbilder entstehen konnen. Es ist hierbei keineswegs notwendig, d immer gut ausgebildete Einkristalle vor liegen. Sehr viele Untersuchungsverfahren werden an feinen Kristallpulvern durchgefiihrt, die man von den meisten Materialien leicht erhiilt. Da die Beugungsbilder fUr jede Substanz charakteristisch sind, konnen sie iihnlich wie Fingerabdrticke, zur IdentiflZierung mikro kristalliner Materialien herangezogen werden. Die Analyse von Pulveraufnahmen ermoglicht ferner die Bestimmung des Kristallsystems sowie der Gitterkonstanten. In giinstigen Fallen kann man allein aus Pulveraufnahmen Angaben tiber die Anordnung der Atome im Kristall machen, also eine Kristallstrukturanalyse durchfiihren. Dartiber hinaus erhiilt man aus Pulveraufnahmen Aussagen tiber den Kristallisations grad, liber Gitterfehler sowie tiber Primiirteilchengroen. Auch quantitative Phasenanalysen und Texturbestimmungen sind moglich. Dieser vieWiltige Anwendungsbereich von Rontgen pulveraufnahmen hat dazu gefiihrt, d sich heute nicht nur Kristallographen und Mineralo gen mit diesem Gebiet beschiiftigen, sondern vor allem Chemiker, Metallurgen und ganz allgemein Naturwissenschaftler bedienen sich dieser Verfahren.viii, 172 S. 45 SW-Abb.Versandfertig in 3-5 Tagen, Softcover, Neuware.

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Rontgenstrahlen sind elektromagnetische Wellen, deren Wellenliinge kiirzer ist als die des sichtbaren Lichtes und in der Gro enordnung atomarer Absmnde in Kristallen liegt (ca. 100 pm). Sie bilden die Grundlage fUr eine Reihe verschiedener Untersuchungsver fahren, die man in vier gro e Gruppen einteilen kann: 1. Rontgendurchleuchtungstechnik und Grobstrukturanalyse 2. Rontgenbeugungsverfahren bzw. Feinstrukturanalyse 3. Rontgen-Emissionsanalyse (Fluoreszenzanalyse) 4. Sonderverfahren Das vorliegende Buch beschaftigt sich vorwiegend mit der zweiten Gruppe von Unter suchungsverfahren, mit Beugungsphiinomenen. Rontgenstrahlen werden namlich an den periodisch angeordneten atomaren Bausteinen kristallinen Materials gebeugt, wobei charak teristische Beugungsbilder entstehen konnen. Es ist hierbei keineswegs notwendig, d immer gut ausgebildete Einkristalle vor liegen. Sehr viele Untersuchungsverfahren werden an feinen Kristallpulvern durchgefiihrt, die man von den meisten Materialien leicht erhiilt. Da die Beugungsbilder fUr jede Substanz charakteristisch sind, konnen sie iihnlich wie Fingerabdrticke, zur IdentiflZierung mikro kristalliner Materialien herangezogen werden. Die Analyse von Pulveraufnahmen ermoglicht ferner die Bestimmung des Kristallsystems sowie der Gitterkonstanten. In giinstigen Fallen kann man allein aus Pulveraufnahmen Angaben tiber die Anordnung der Atome im Kristall machen, also eine Kristallstrukturanalyse durchfiihren. Dartiber hinaus erhiilt man aus Pulveraufnahmen Aussagen tiber den Kristallisations grad, liber Gitterfehler sowie tiber Primiirteilchengro en. Auch quantitative Phasenanalysen und Texturbestimmungen sind moglich. Dieser vieWiltige Anwendungsbereich von Rontgen pulveraufnahmen hat dazu gefiihrt, d sich heute nicht nur Kristallographen und Mineralo gen mit diesem Gebiet beschiiftigen, sondern vor allem Chemiker, Metallurgen und ganz allgemein Naturwissenschaftler bedienen sich dieser Verfahren. Paperback, Ausgabe: 2, Label: Vieweg+Teubner Verlag, Vieweg+Teubner Verlag, Produktgruppe: Book, Publiziert: 1980-01-01, Freigegeben: 1980-01-01, Studio: Vieweg+Teubner Verlag.

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4. Aufl. IX, 193 S. : Abb. ; 23 cm. Kartoneinband. Guter Zustand. Minimale Gebrauchs- und Lagerspuren. Einband foliert. Seiten sauber und ohne Eintragungen. Versand D: 1,50 EUR Röntgenfeinstrukturanalyse, Physik, Röntgenfeinstruktur, Röntgen, Röntgenanalyse, feinstruktur, Analyse.

Von Händler/Antiquariat, multilibri [60573123], Darmstadt, Germany.
IX, 193 S., 23 cm Ausgeschiedenes - wenig genutztes - Bibliothek***emplar in Klarsichtfolie eingebunden, mit Aufkleber und Stempeln, ohne Anmerkungen und Anstreichungen, sehr guter Zustand Sprache: Deutsch Gewicht in Gramm: 700.

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