Reliability of n-Type Organic Field Effect Transistors
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Reliability of n-Type Organic Fie (2015)
DE PB NWISBN: 9783659677489 bzw. 3659677485, in Deutsch, Taschenbuch, neu.
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Erscheinungsdatum: 20.03.2015, Medium: Taschenbuch, Einband: Kartoniert / Broschiert, Titel: Reliability of n-Type Organic Field Effect Transistors, Autor: Ahmed, Rizwan // Sitter, Helmut, Verlag: LAP Lambert Academic Publishing, Sprache: Englisch, Rubrik: Naturwissenschaften // Technik allg., Seiten: 144, Informationen: Paperback, Gewicht: 231 gr, Verkäufer: averdo.
Erscheinungsdatum: 20.03.2015, Medium: Taschenbuch, Einband: Kartoniert / Broschiert, Titel: Reliability of n-Type Organic Field Effect Transistors, Autor: Ahmed, Rizwan // Sitter, Helmut, Verlag: LAP Lambert Academic Publishing, Sprache: Englisch, Rubrik: Naturwissenschaften // Technik allg., Seiten: 144, Informationen: Paperback, Gewicht: 231 gr, Verkäufer: averdo.
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Reliability of n-Type Organic Field Effect Transistors
~DE PB NWISBN: 3659677485 bzw. 9783659677489, vermutlich in Deutsch, LAP Lambert Academic Publishing, Taschenbuch, neu.
Reliability of n-Type Organic Field Effect Transistors ab 61.9 € als Taschenbuch: . Aus dem Bereich: Bücher, English, International, Gebundene Ausgaben,.
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Reliability of n-Type Organic Field Effect Transistors (2015)
DE PB NWISBN: 9783659677489 bzw. 3659677485, in Deutsch, LAP LAMBERT Academic Publishing, Taschenbuch, neu.
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~DE PB NWISBN: 9783659677489 bzw. 3659677485, vermutlich in Deutsch, LAP LAMBERT Academic Publishing, Taschenbuch, neu.
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DE NWISBN: 9783659677489 bzw. 3659677485, in Deutsch, neu.
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