Gettering and Defect Engineering in Semiconductor Technology XVI
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Intrinsic Point Defects, Impurities, and Their Diffusion in Silicon (2004)
DE NWISBN: 9783211206874 bzw. 3211206876, in Deutsch, Springer-Verlag Kg Jun 2004, neu.
Von Händler/Antiquariat, AHA-BUCH GmbH [51283250], Einbeck, NDS, Germany.
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Intrinsic Point Defects, Impurities, and Their Diffusion in Silicon
DE NWISBN: 9783211206874 bzw. 3211206876, in Deutsch, Springer-Verlag KG, neu.
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Rheinberg-Buch, [3813847].
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Rheinberg-Buch, [3813847].
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Intrinsic Point Defects, Impurities, and Their Diffusion in Silicon (2004)
DE NWISBN: 9783211206874 bzw. 3211206876, in Deutsch, Springer-Verlag KG, neu.
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buchZ AG, [3859792].
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buchZ AG, [3859792].
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Intrinsic Point Defects, Impurities, and Their Diffusion in Silicon (2004)
DE NWISBN: 9783211206874 bzw. 3211206876, in Deutsch, Springer-Verlag KG, neu.
buchversandmimpf2000, [3715720].
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Intrinsic Point Defects, Impurities, and Their Diffusion in Silicon (2004)
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Buchhandlung Kühn GmbH, [4368407].
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Symbolbild
Gettering and Defect Engineering in Semiconductor Technology XVI (2015)
DE NW EB DLISBN: 9783035700831 bzw. 3035700834, in Deutsch, Trans Tech Publications, neu, E-Book, elektronischer Download.
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Gettering and Defect Engineering in Semiconductor Technology XVI (2015)
EN NW EB DLISBN: 9783035700831 bzw. 3035700834, in Englisch, neu, E-Book, elektronischer Download.
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