Third Workshop on Grand Unification : University of North Carolina, Chapel Hill April 15-17, 1982
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Bester Preis: Fr. 62.91 (€ 64.33)¹ (vom 11.07.2017)CAD-Entwurfskontrolle in der Mikroelektronik: Mit einer Einführung in den Entwurf kundenspezifischer Schaltkreise
ISBN: 9783519024767 bzw. 3519024764, vermutlich in Deutsch, Teubner, Stuttgart, Deutschland, neu.
Einführung.- 1 Nmos Schaltungstechnik.- 1.1 Einführung.- 1.2 Transistoren.- 1.2.1 Der Selbstsperrende NMOS-Transistor.- 1.2.2 Der Selbstleitende NMOS-Transistor.- 1.2.3 Technologie.- 1.3 Verbindungstechnik.- 1.3.1 Verbindungen Innerhalb Einer Ebene.- 1.3.2 Verbindungen Zwischen Ebenen.- 1.4 Einfache NMOS-Schaltungen.- 1.4.1 Der Inverter.- 1.4.2 Das NAND-Gatter.- 1.4.3 Das NOR-Gatter.- 1.4.4 Allgemeine Einstufige NMOS-Schaltungen.- 1.4.5 Der PASS-Transistor.- 2 Der VLSI Entwurfsprozess.- 2.1 Die Funktionalebene.- 2.2 Die Register-Transfer-Beschreibung.- 2.3 Die Logikebene.- 2.4 Die Schaltkreisebene.- 2.5 Die Layout-Ebene.- 3 Topographische Layoutkontrolle.- 3.1 Polygon-Orientierter Design-Rule-Check.- 3.1.1 Logische Operationen auf Layer.- 3.1.2 Design-Rule-Check-Algorithmen.- 3.1.2.1 Vergleich Innenlage.- 3.1.2.2 Schnittpunktsermittlung.- 3.1.2.3 Schrumpfen und Expandieren von Symbolen.- 3.1.2.4 Problematik des Expandierens.- 3.2 Raster-Orientierter Design-Rule-Check.- 3.2.1 Logische Operationen auf Layer.- 3.2.2 Design-Rule-Check-Algorithmen.- 3.2.3 Partitionierung beim Raster-Orientierten Design-Rule-Check.- 3.2.4 Design-Rule-Checker-Maschine.- 3.3 Hierarchischer Design-Rule-Check.- 4 Schaltkreisextraktion.- 4.1 Polygon-Orientierte Schaltkreisextraktion.- 4.1.1 Ermittlung der Netzliste Einer Schaltung aus dem Layout.- 4.1.2 Parasitäre Kapazitäten.- 4.1.2.1 Ursache Parasitärer Kapazitäten.- 4.1.2.2 Extraktion Parasitärer Kapazitäten.- 4.1.2.2.1 Flächenberechnung.- 4.1.2.2.2 Umfangsberechnung.- 4.1.3 Parasitäre Widerstände.- 4.1.3.1 Flächenaufspaltung von Leitungen.- 4.1.3.2 Bestimmung der Hauptstromrichtung.- 4.1.3.3 Parametrisiertes Widerstandsmodell.- 4.1.3.4 Schwächen der Widerstandsberechnung.- 4.2 Raster-Orientierte Schaltkreisextraktion.- 4.2.1 Ermittlung der Netzliste.- 4.2.1.1 Ermittlung der Knoten der Schaltung.- 4.2.1.2 Ermittlung der Transistoranschlüsse.- 4.2.2 Kapazitätsberechnung.- 4.2.3 Widerstandsberechnung.- 4.2.4 Extraktionsmaschine.- 4.3 Hierarchische Schaltkreisextraktion.- 5 Logikextraktion.- 5.1 Knotenklassifizierung.- 5.2 Der Netzwerkbaum.- 5.3 Pfadermittlung.- 5.4 Gesamtlogik.- 5.5 Rückkopplungen.- 6 RT-Extraktion.- 6.1 RT-Extraktion auf Gatterebene.- 6.2 RT-Extraktion Funktionaler Blöcke.- 6.2.1 RT-Extraktion Durch Synthese.- 6.2.2 Analytische RT-Extraktion.- 6.3 RT-Extraktion der Gesamtschaltung.- 7 Vergleich von Netzwerken.
CAD-Entwurfskontrolle in der Mikroelektronik (1983)
ISBN: 9783519024767 bzw. 3519024764, in Deutsch, Vieweg & Teubner, neu.
CAD-Entwurfskontrolle in Der Mikroelektronik (1983)
ISBN: 9783519024767 bzw. 3519024764, in Deutsch, Vieweg+teubner Verlag, Taschenbuch, neu.
Paperback. 213 pages. Dimensions: 9.2in. x 6.1in. x 0.5in.Das vor1iegende Buch entstand aus einem Skript zur Vor1esung CAD-Hi1fsmitte1 zur Entwurfskontro11e hochinte grierter Digita1scha1tungen. Diese Vor1esung wird seit 1983 von mir unter wissenschaft1icher Verantwortung von Herrn Prof. Dr. -Ing. R. W. Hartenstein geha1ten. Sie ist Bestandteil des Hauptstudiums Informatik der Universitt Kaisers1autern. Neben einer grnd1ichen berarbeitung wurde das Skript im wesent1ichen um zwei einfhrende Kapite1 ergnzt. Das erste gibt dem Leser in knapper Form einen Einstieg in die NMOS-Scha1tungstechnik. Dieses Kapite1 richtet sich insbesondere an zwei Leserschichten: Erstens den Informatiker, der CAD-Hi1fsmittel entwerfen wi1l und eine einfache Darste11ung der e1ektrotechnischen Hintergrnde sucht. Der zweite Personenkreis sind Entwick1er e1ektronischer Scha1tungen, denen dieses Kapite1 a1s Einfhrung in den Entwurf kundenspezifischer Scha1tungen dienen kann. In beide Leserkreise beziehe ich auch Studenten der entsprechenden Fachrichtungen ein. Das Kapite1 geht bewut nicht auf festkrperphysika1ische Einze1heiten und komp1izierte Transistormode11e ein. Es orientiert sich vie1mehr am bekannten Lehrbuch Introduction to VLSI Systems von Carver Mead und Lynn Conway 9. Ich bitte a11e Ha1b1eiter-Physiker und Techno1ogen, diese Abstraktion zu verzeihen. Das zweite Kapite1 gibt eine bersicht ber die verschiedenen Schritte, die von einer Scha1tungsidee bis zum fertigen Chip fhren. Hier werden die verschidenen Betrachtungsebenen whrend der Entwurfsphase und die CAD-Werkzeuge, die in den verschiedenen Abstraktionsebenen zur Verfgung stehen, aUfgezeigt. In diesem Kapite1 werden die Grund1agen fr einen strukturierten SChaltungsentwurf ge1egt, dessen grundstz1iche Bedeutung ich im gesamten Buch hervorhebe. 6 Vorwort Kapitel 3 und 4 befassen sich mit zwei Schwerpunkten der Entwurfskontrolle integrierter Schaltungen. dem Design Rule-Check und der Schaltkrei***traktion. Zu beiden Gebieten werden unterschiedliche Lsungsmglichkeiten vorgestellt. This item ships from multiple locations. Your book may arrive from Roseburg,OR, La Vergne,TN.
CAD-Entwurfskontrolle in der Mikroelektronik (1985)
ISBN: 9783519024767 bzw. 3519024764, vermutlich in Deutsch, Teubner, Stuttgart, Deutschland, Taschenbuch, neu.
Erscheinungsdatum: 01.04.1985, Medium: Taschenbuch, Einband: Kartoniert / Broschiert, Titel: CAD-Entwurfskontrolle in der Mikroelektronik, Titelzusatz: Mit einer Einführung in den Entwurf kundenspezifischer Schaltkreise, Auflage: 1985, Autor: Nebel, Wolfgang, Verlag: Vieweg+Teubner Verlag // Vieweg & Teubner, Sprache: Deutsch, Rubrik: Technik // Sonstiges, Seiten: 216, Informationen: Book, Gewicht: 330 gr, Verkäufer: averdo.
CAD-Entwurfskontrolle in der Mikroelektronik (1985)
ISBN: 3519024764 bzw. 9783519024767, vermutlich in Deutsch, Vieweg+Teubner Verlag, Taschenbuch, neu.
CAD-Entwurfskontrolle in der Mikroelektronik: Mit einer Einführung in den Entwurf kundenspezifischer Schaltkreise
ISBN: 9783519024767 bzw. 3519024764, in Deutsch, Vieweg+Teubner Verlag, Taschenbuch, neu.
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in or out (2015)
ISBN: 9783730811580 bzw. 3730811584, in Deutsch, 48 Seiten, Isensee Verlag, Taschenbuch, neu, Erstausgabe.
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CAD-Entwurfskontrolle in der Mikroelektronik: Mit einer Einf�hrung in den Entwurf kundenspezifischer Schaltkreise Wolfgang Nebel Author
ISBN: 9783519024767 bzw. 3519024764, vermutlich in Deutsch, Vieweg+Teubner Verlag, Taschenbuch, neu.
CAD Entwurfskontrolle in der Mikroelektronik,Wolfgang Nebel.
CAD-Entwurfskontrolle in der Mikroelektronik
ISBN: 9783322946539 bzw. 3322946533, in Deutsch, Springer Nature, neu, E-Book.
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